高精度低仪温测量仪|半导体高低温测试实验箱

 

 

高精度低仪温测量仪|半导体高低温测试实验箱参数：

温度范围：A表示：0℃～+150℃；B表示：-20℃～+150℃；C表示：-40℃～+150℃；D表示：-70℃～+150℃

温度精度：±0.01℃

温度波动度：±0.5℃

温度均匀度：±2.0℃

升温速率：平均3℃/min（非线性、空载时；从常温+25℃升至+85℃约20min）；可按要求定制非标规格

降温速度：平均1℃/min（非线性、空载时；从常温+25℃降至-40℃约65min）；可按要求定制非标规格

使用电源：单相 三线 220V 50HZ或三相 五线 380V 50HZ

内箱材质：SUS 304镜面不锈钢

外箱才质：SUS 201纱面不锈钢或冷钢板高级喷塑处理

制冷系统：采用法国原装进口泰康压缩机，环保冷媒R504A和R23A，鳍片式冷凝器附散热蒸发器

控制系统：采用TEMI880可编程系列温湿度控制器

安全保护装置：无熔丝开关，压缩机高压、过热、过流保护，超温保护，风机过载保护，保险丝，干烧保护器，缺水报警

标准配置：置物架2套，观察窗1个，测试孔1个，脚轮4个，加湿桶1个，测试湿布5片

联机软件：232或485接口联机，配软件光盘和连接数据线1套，可选配USB接口

高精度低仪温测量仪|半导体高低温测试实验箱，试验各种材料耐热、耐寒、耐干性能。适合电子、电器、通讯、仪表、车辆、塑胶制品、金属、食品、化学、建材、医疗、航天等制品检测质量之用。

高精度低仪温测量仪|半导体高低温测试实验箱满足以下标准：

GB/T 10592 -2008 高低温试验箱技术条件

GB/T 10586 -2006 湿热试验箱技术条件

GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验A：低温

GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温

GB/T 2423.3-2006 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验Cab：恒定湿热试验

GB/T 2423.4-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验Db：交变湿热（12h + 12h循环）

GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则

标题:高精度低仪温测量仪|半导体高低温测试实验箱
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